X射线光电子能谱仪(XPS)具备元素鉴定、价态分析、定量分析、微区成像、角分辨ARXPS、离子刻蚀、深度剖析、UPS等功能，能够系统地表征材料表面的成分、元素和价态等信息，广泛应用于材料科学、化学化工、催化科学、薄膜研究和微电子技术等领域。为了进一步普及仪器构造和原理知识，提高仪器的使用率，解答师生在测试过程中存在的问题，2021年4月21日，分析测试中心王秋祥博士在机电信息实验大楼A207举办了关于《X射线光电子能谱简介及数据处理》的讲座。

此次讲座从X射线光电子能谱仪的发展、工作原理与仪器简介、定性和定量分析、X射线光电子能谱数据处理等四个方面展开，深入浅出地介绍了仪器构造和原理，分析了X射线光电子能谱中各谱峰的产生原因，并介绍了如何使用专业软件对谱图进行处理。

讲座吸引了校内材料、化工、机电等学院的师生以及校外老师前来参加，会议室里座无虚席。用户提问环节中，王秋祥博士针对实际测试过程中常见的问题提供了有效解决方法，针对性地解答了师生的困惑。此次讲座取得了良好的效果，既增进了用户对仪器构造和原理的认识，提高了数据处理技能，同时推广了仪器，有助于提高仪器使用率，推进重大贵重仪器的开放共享。