仪器名称：X射线衍射仪

规格/型号：D8 Advance

生产厂商：布鲁克

放置地点：综合实验大楼B407

负责人：郭小华，施雅芳；电话：0592-6161595；邮箱：iac@hqu.edu.cn

一、主要应用

X射线粉末衍射（XRPD）技术是最重要的材料表征工具之一。粉末衍射图中的许多信息，直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件的支持下，您将能简单地实施常见的XRPD方法：鉴别晶相和非晶相，并测定样品纯度；对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析；微观结构分析；热处理或加工制造组件产生的大量残余应力；织构（择优取向）分析；晶体结构测定和晶体结构精修等。

二、性能指标

1. X射线输出功率≥3kW；Cu靶陶瓷光管

2. 测角仪测角仪具有光学定位系统；2θ转动范围：-110°~168°；最小步长：0.0001°

3. 织构、应力样品台

4. 电池模具X射线窗口直径：≥16mm；电池模具XRD衍射数据测量范围：8°到150°；控温范围：-30℃～85℃。

5. LYNXEYE XE-T探测器，探测器面积≥224mm²，通道个数≥192个；能量分辨率≤12.5%

6. 9位自动进样器

三、测试要求

粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径1-50μm（大尺寸块体需研磨后过200目筛），粉末样品量约需0.5g以上，不足者勾选微量测试选项。

块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤20mm，直径≤2cm（薄膜样品的尺寸最好为10mm×10mm）。

微量粉末样品需要颗粒均匀细小，且物质性质稳定，对Si无腐蚀性。

条带需要平整光滑且不能太厚。

检测要求中测试的起始角度，2θ角扫描范围须在3°～120°之间，若样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请尽量提供样品中所含的元素种类，易变质样品需提前与仪器管理员联系。